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| 題 名 | 機器視覺應用於多晶矽太陽能板之鋸痕瑕疵檢測 |
|---|---|
| 作 者 | 李韋辰; 黃國唐; 林毓庭; 張津魁; | 書刊名 | 電機月刊 |
| 卷 期 | 22:6=258 2012.06[民101.06] |
| 頁 次 | 頁146-156 |
| 專 輯 | 工業控制應用專輯 |
| 分類號 | 312.1 |
| 關鍵詞 | 瑕疵檢測; 異質性紋路; 傅立葉轉換; 霍氏轉換; 多晶太陽能晶片; |
| 語 文 | 中文(Chinese) |
| 中文摘要 | 近年來由於原油價格不斷的上升且全球暖化程度日趨嚴重,促使各國不斷尋找替代能源。現階段直接可行的下一代替代能源便是太陽能,而現今太陽能電池的瑕疵檢測判定皆在最後成品階段進行人工全面檢測。然而此檢測方式需要大量人力成本,且太陽能晶片使用人工檢測時不僅費時且容易發生漏檢及誤判的情形,製程上沒有立即修正及調整缺失,容易造成最後成品中大量不正常產生,不僅浪費了大量的材料成本,且對於交貨品質及信用造成無法估算的影響。 本研究主要為開發去除多晶太陽能晶片的背景晶格技術以及在去晶格之影像上偵測瑕疵,主要方法為利用傅立葉重建技術使一張具複雜晶格的多晶太陽能影像成為一張無紋路影像。可有效去除複雜晶格紋路且保留表面瑕疵。本研究檢測多晶太陽能晶片表面鋸痕(saw-mark)瑕疵,這種瑕疵主要出現在太陽能晶片的切片製程中,若未及早偵測出來則會影響太陽能電池良率及產量。 由於使用傅立葉重建技術所得到的無紋路重建影像顯示光源不均之特性,且瑕疵在光源不均的影像中呈現低對比狀態,因此本研究開發以霍夫轉換(Hough transform)為基之一維線段偵測演算法,此演算法首先利用水平與垂直灰階掃描線之資料點估計出直線,當任一偵測點偏離所估計之直線,則該點將被判定為瑕疵點。本研究所提出的方法可有效的偵測出各種鋸痕瑕疵形式。本研究測試30張正常與20張瑕疵影像後,實驗結果都能將鋸痕瑕疵測出來而無誤判,且處理一張256×256像素之影像需0.26秒。 |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。