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題名 | 應用德爾菲法及分析網路程序法於半導體分析晶片缺點因子改善製程良率之研究=Analyzing the Defect Factors to Improve Process Yield of Semiconductor with ANP and Delphi Method |
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作者 | 張洝源; 周大鈞; | 書刊名 | 國立虎尾科技大學學報 |
卷期 | 30:2 2011.06[民100.06] |
頁次 | 頁17-36 |
分類號 | 448.552 |
關鍵詞 | 德爾菲法; 分析網路程序法; 半導體化學氣相沉積晶片缺點; Delphi method; Analytic network process; Defects in semiconductor chemical vapor deposition chip; |
語文 | 中文(Chinese) |