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題名 | 掃描探針化學分析技術= |
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作者 | 謝瓊雯; 謝淑貞; 鄭悅安; 劉怡良; |
期刊 | 電子月刊 |
出版日期 | 20110800 |
卷期 | 17:8=193 2011.08[民100.08] |
頁次 | 頁86-97 |
分類號 | 460.02 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 自組裝薄膜; 原子力顯微鏡; 溶劑效應; 溫度效應; 摩擦力; SAMs; AFM; |
中文摘要 | 自組裝單分子薄膜在微機電系統和奈米機電系統的裝置是很重要的議題。這些膜的結構特性以及堆積方式對於其是否能完美的展現其效能有很大的關係。由原子力顯微鏡觀測其與探針的接觸摩擦力,可以得知自組裝薄膜在提高溫度後的分子堆積穩定性以及在不同溶劑下的分子堆積密度資訊。這對微機電系統以及奈米機電系統裝置上利用有機分子層保護元件的可行性與使用壽命可得到進一步的即期資料。本研究使用原子力顯微鏡成像以及側向摩擦力量測的方式,在不同溫度下輔以傅立葉紅外線光譜儀及Langmuir - Blodgett來分析溶劑效應以及熱效應對自組裝薄膜堆積的影響。 |
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