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題 名 | Temperature Dependence of Substrate Currents of MOSFETs Under Different Drain and Gate Biases |
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作 者 | Liu, Chuan-hsi; Chen, Shuang-yuan; Tu, Chia-hao; Huang, Heng-sheng; Chou, Sam; Ko, Joe; | 書刊名 | Journal of The Chinese Institute of Engineers |
卷 期 | 34:3 2011.04[民100.04] |
頁 次 | 頁441-448 |
分類號 | 448.533 |
關鍵詞 | Temperature; MOSFETs; Substrate current; Hot-carrier; |
語 文 | 英文(English) |