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來源資料
機電整合
143 2010.07[民99.07]
頁88-89
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題 名
淺談電子產品的硬體測試技術
作 者
黃豔敏
;
書刊名
機電整合
卷 期
143 2010.07[民99.07]
頁 次
頁88-89
分類號
448.537
關鍵詞
硬體測試
;
訊號質量
;
時序
;
容限測試
;
語 文
中文(Chinese)
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