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來源資料
真空科技
19:2 民95.11
頁89-94
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題名
透明導電ITO薄膜輻射損傷之特性分析
作者姓名(中文)
潘漢昌
;
蘇健穎
;
林郁洧
;
陳宏彬
;
蕭健男
;
書刊名
真空科技
卷期
19:2 民95.11
頁次
頁89-94
分類號
448.552
關鍵詞
透明導電薄膜
;
輻射損傷
;
ITO
;
語文
中文(Chinese)
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