您的瀏覽器不支援或未開啟JavaScript功能,將無法正常使用本系統,請開啟瀏覽器JavaScript功能,以利系統順利執行。
返回
/NclService/
快速連結
跳到主要內容
:::
首頁
關於本站
網站導覽
聯絡我們
國家圖書館
English
開啟查詢結果分析
查詢資訊
期刊論文索引(找篇目)
指令檢索
期刊指南(找期刊)
近代 (1853-1979年) 港澳華文期刊索引
漢學中心典藏大陸期刊論文索引
中國文化研究論文目錄
期刊瀏覽
檢索歷程
期刊授權
出版機構
公佈欄
常見問題
軟體工具下載
:::
首頁
>
查詢資訊
>
期刊論文索引查詢
>
詳目列表
查詢結果分析
來源資料
陶業
28:3 2009.07[民98.07]
頁1-10
工程學總論
>
玻璃
相關文獻
以銀為內電極的積層陶瓷電容器失效機制分析
電子零組件製造業--電容器製造業
積層陶瓷電容器之市場及技術發展趨勢
累和管制圖應用於積層陶瓷電容製程中具覆蓋性電極印刷之微量偏移製程管制探討
流變學與積層陶瓷電容器漿料研磨、薄帶成形
流變學與積層陶瓷電容器電極印刷
積層陶瓷電容器產業
積層陶瓷電容器粉體製作
積層陶瓷電容器製程簡介
積層陶瓷電容器電性測試
頁籤選單縮合
基本資料
引用格式
國圖館藏目錄
全國期刊聯合目錄
勘誤回報
我要授權
匯出書目
題 名
以銀為內電極的積層陶瓷電容器失效機制分析=Failure Analysis of Multilayer Ceramic Capacitor with Ag Electrode
作 者
施伊庭
;
簡朝和
;
書刊名
陶業
卷 期
28:3 2009.07[民98.07]
頁 次
頁1-10
分類號
440.33
關鍵詞
積層陶瓷電容器
;
銀擴散
;
加速生命期測試
;
阻抗頻譜分析
;
MLCC
;
Ag migration
;
HALT
;
Impedance analysis
;
語 文
中文(Chinese)
頁籤選單縮合
推文
引用網址
引用嵌入語法
Line
FB
Google bookmarks
本文的引用網址:
複製引用網址
本文的引用網址:
複製引用網址