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題 名 | 決定加速預燒試驗的最佳時間和溫度條件=Determine the Optimal Time and Temperature Level of Accelerated Burn-in Test |
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作 者 | 林揚承; 李佩熹; 童超塵; | 書刊名 | 品質學報 |
卷 期 | 16:4 2009.08[民98.08] |
頁 次 | 頁281-290 |
分類號 | 494.56 |
關鍵詞 | 加速預燒測試; Arrhenius-weibull分配; 平均殘餘壽命; 基因演算法; TFT-液晶顯示器模組; Accelerated burn-in test; Arrhenius-weibull distribution; Genetic algorithms; TFT-LCD module; |
語 文 | 中文(Chinese) |