查詢結果分析
相關文獻
- 半導體積體電路最終測試廠預燒機機臺組批方法的比較模擬研究
- Combined Grey Relational Analysis/Differential Dynamic Programming for Short-Term Hydro Generation Scheduling
- 半導體工業用矽化氫(Silane)之物性及事故案例
- 大氣壓力游離式質譜儀在半導體工業之應用
- 半導體工業空氣中揮發性有機化合物之分析
- 硒化鎘奈米半導體晶體的合成及在薄膜製備上的應用
- 半導體產業製程與用電特性之調查分析
- 我國動態隨機存取記憶體產業分析與策略研究
- Object-Oriented Design Methodology and Implementation of an Optimizing Adaptive Quality Controller for Semiconductor Manufacturing Processes
- VLSI所有權之動向
頁籤選單縮合
題 名 | 半導體積體電路最終測試廠預燒機機臺組批方法的比較模擬研究=The Batching Method of Burn-In Oven in Semiconductor Final Test Process |
---|---|
作 者 | 張子筠; 周富得; 王惠梅; | 書刊名 | 清雲學報 |
卷 期 | 29:1 2009.01[民98.01] |
頁 次 | 頁181-208 |
分類號 | 448.532 |
關鍵詞 | 半導體; 批次排程; 動態規劃; 最大完工時間; 預燒; Semiconductor; Batch scheduling; Dynamic programming; Makespan; Burn in; |
語 文 | 中文(Chinese) |