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| 題 名 | 電容器外殼針孔缺陷成因分析=Clarification of the Cause of Pin-hole Defect in Capacitor Cases |
|---|---|
| 作 者 | 廖啟民; 林思寧; | 書刊名 | 技術與訓練 |
| 卷 期 | 33:4=245 2008.12[民97.12] |
| 頁 次 | 頁63-71 |
| 專 輯 | 非鐵產品專集 |
| 分類號 | 454.9 |
| 關鍵詞 | 1N30鋁材; 電容器外殼; 針孔缺陷; 1N30 aluminum foil; Capacitor cases; Pin-hole damage; |
| 語 文 | 中文(Chinese) |