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| 題 名 | 從2008年CeBIT會場之檢警搜索扣押事件,談德國專利侵權之刑事責任及實務運作=Criminal Liability of Patent Infringement and Relevant Practice under German Laws--Focusing on the Police Raid Action during CeBIT 2008 |
|---|---|
| 作 者 | 李怡姍; | 書刊名 | 智慧財產權月刊 |
| 卷 期 | 117 2008.09[民97.09] |
| 頁 次 | 頁49-61 |
| 分類號 | 440.6 |
| 關鍵詞 | 2008漢諾威電子展; 德國專利侵權; 德國專利法; 德國侵權刑責; 德國搜索扣押程序; 德國商展; 德國新式樣侵權; 德國新型侵權; 2008 CeBIT; Sisvel; |
| 語 文 | 中文(Chinese) |
| 中文摘要 | 2008年3月5日,三名檢察官率領183名便衣警察進入德國漢諾威電子展(CeBIT)的會場,對51家參展廠商的攤位進行搜索,並扣押部份涉及專利侵權之展品。本文謹配合本次事件之發生經過及後續司法程序發展,簡介德國專利侵權之刑事責任、相關程序、及實務運作,並對廠商提出自保之建議。 |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。