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來源資料
電子檢測與品管
74 2008.04[民97.04]
頁23-31
電機工程
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電燈廠
相關文獻
光電元件的近場光學檢測
積體電路近場掃描自動量測系統開發與量測
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題 名
積體電路近場掃描自動量測系統開發與量測
作 者
董建利
;
陳秋國
;
袁世一
;
書刊名
電子檢測與品管
卷 期
74 2008.04[民97.04]
頁 次
頁23-31
專 輯
IC EMC發展與應用
分類號
448.57
關鍵詞
近場掃描
;
IC-EMC
;
Near-field scanner
;
IEC 61967-3
;
IEC 61967-6
;
語 文
中文(Chinese)
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