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來源資料
電工資訊雜誌
159 2004.03[民93.03]
頁38-41
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匯出書目
題 名
挑戰量測技術的極限--工研院量測中心投入AOI設備技術開發有成
作 者
闕慶沂
;
書刊名
電工資訊雜誌
卷 期
159 2004.03[民93.03]
頁 次
頁38-41
分類號
487.14
關鍵詞
自動化光學檢測
;
Automatic optical inspection
;
AOI
;
語 文
中文(Chinese)
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