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題 名 | 雙次計數值允收抽樣計畫與作業特徵曲線之設計--圖形化介面程式設計使用LabVIEW語言=Design of a Double Attribute Acceptance Sampling Plan and Its Operating Characteristic Curve: A Visual Approach Using LabVIEW Programming Language |
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作 者 | 張珩; 黃聰耀; | 書刊名 | 華岡工程學報 |
卷 期 | 20 民95.06 |
頁 次 | 頁29-38 |
分類號 | 494.568 |
關鍵詞 | 計數值抽數檢驗; 作業特徵曲線; Attribute acceptance sampling; Operating characteristic curve; |
語 文 | 中文(Chinese) |