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題 名 | 平面基板非破壞性介電特性量測方法簡介(上)=Survey of Non-Destructive Permittivity Characterization Methods of Planar Substrates (1) |
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作 者 | 傅坤福; 陳聰文; 鄧文浩; 羅新賢; | 書刊名 | 工業材料 |
卷 期 | 248 2007.08[民96.08] |
頁 次 | 頁175-178 |
分類號 | 448.57 |
關鍵詞 | 材料測試治具; 材料量測; 介電常數; 介電損耗; Material characterization fixture; Material measurement; Dielectric constant; Loss tangent; Tan δ; |
語 文 | 中文(Chinese) |