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題名 | X光繞射分析的原理與應用=The Theory and Applications of X-ray Diffraction |
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作者 | 張六文; 陳福左; Chang, Liuwen; Chen, Fu-tzao; |
期刊 | 技術與訓練 |
出版日期 | 19980200 |
卷期 | 23:1=188 1998.02[民87.02] |
頁次 | 頁59-86 |
分類號 | 343.318 |
語文 | chi |
關鍵詞 | X光繞射分析; |
中文摘要 | 本文共分為三部份,首先介紹X光的特性、激發原理,和X光繞射的基本原理; 第二部份則針對本公司現有的X光繞射分析設備,如第白謝勒照相機和X光繞射儀,介紹其 功能與分析方法。最後,則列舉上述儀器可應用的分析領域與實際應用的結果,已期加強X 光繞射分析應用的深度與廣度,提昇分析與研究的水準。 |
英文摘要 | The fundamental theory of X-ray diffraction and the advantages of this technique for material characteristization are summarised. Examples are given of the applications to the study of phase identification, residual stress analysis and texture analysis. |
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