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題 名 | 由國際專利侵害規範與實務論我國專利侵害鑑定要點之修訂與實務問題(上)=Analysis of Amendments to Patent Infringement Verification Guidelines (1) |
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作 者 | 張仁平; | 書刊名 | 智慧財產權月刊 |
卷 期 | 90 民95.06 |
頁 次 | 頁64-110 |
分類號 | 440.6 |
關鍵詞 | 專利侵害鑑定; 專利法; |
語 文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 本文係針對專利侵害鑑定實務中之各階段與要件,包括解釋申請專利範圍、解析申請專利範圍之技術特徵、解析待鑑定對象之技術內容、全要件原則、文義讀取、逆均等論、均等論、禁反言、先前技術阻卻等,參照國際相關規範與實務,比較說明我國原「專利侵害鑑定基準」與修正後「專利侵害鑑定要點」之差異及修正重點,並探討相關實務操作問題。 |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。