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題名 | 嵌入式系統驗證與測試=Verification and Test of Embedded System |
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作者 | 王傳弘; Wang, Chwan-hung; |
期刊 | 電腦與通訊 |
出版日期 | 20060600 |
卷期 | 116 民95.06 |
頁次 | 頁152-163 |
分類號 | 312.49 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 消費性電子; 嵌入式系統; 測試個案; 程式碼覆蓋率; 即時性; 白盒測試; 黑盒測試; 邊際測試; 知識產權; Customer electronic; Embedded system; Test case; Code coverage; Real-time; White box; Black box; Marginal testing; Intellectual property; IP; |