您的瀏覽器不支援或未開啟JavaScript功能,將無法正常使用本系統,請開啟瀏覽器JavaScript功能,以利系統順利執行。
返回
/NclService/
快速連結
跳到主要內容
:::
首頁
關於本站
網站導覽
聯絡我們
國家圖書館
English
開啟查詢結果分析
查詢資訊
期刊論文索引(找篇目)
期刊指南(找期刊)
近代 (1853-1979年) 港澳華文期刊索引
漢學中心典藏大陸期刊論文索引
中國文化研究論文目錄
期刊瀏覽
檢索歷程
期刊授權
出版機構
公佈欄
常見問題
軟體工具下載
:::
首頁
>
查詢資訊
>
期刊論文索引查詢
>
詳目列表
查詢結果分析
來源資料
量測資訊
108 民95.03
頁42-45
精密機械工藝
>
光學儀器
相關文獻
奈米三維形貌量測系統研究分析
奈米量測技術簡介
微型雷射干涉儀於奈米量測機之應用
奈米量測技術專輯前言
奈米量測技術之利器--原子力顯微術和近場光學顯微術在工業上的應用
奈米量測在半導體製程上之應用
奈米量測的應用
奈米量測與標準概論
奈米量測技術
以原子力顯微術研究細菌外膜通道奈米結構
頁籤選單縮合
基本資料
引用格式
國圖館藏目錄
全國期刊聯合目錄
勘誤回報
我要授權
匯出書目
題 名
奈米三維形貌量測系統研究分析
作 者
翁漢甫
;
吳乾琦
;
許正治
;
書刊名
量測資訊
卷 期
108 民95.03
頁 次
頁42-45
分類號
471.7
關鍵詞
三維形貌量測
;
奈米量測
;
語 文
中文(Chinese)
頁籤選單縮合
推文
引用網址
引用嵌入語法
Line
FB
Google bookmarks
本文的引用網址:
複製引用網址
本文的引用網址:
複製引用網址