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題 名 | 專利侵害鑑定與技術創新概念之探討=Patent Infringement and Technology Innovation: An Analytical Framework |
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作 者 | 劉尚志; 莊國祥; | 書刊名 | 國立臺灣大學法學論叢 |
卷 期 | 26:3 1997.04[民86.04] |
頁 次 | 頁263-307 |
分類號 | 440.6 |
關鍵詞 | 專利; 侵害鑑定; 創新; 發明; 全要件原則; 均等論; 中心界定主義; 周邊界定主義; |
語 文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 專利侵害包含了法律解釋、法理分析,以及技術鑑定的問題。以往國內的研究多 為法律概念的分析,近幾年來才有科技及管理方面的研究與事實認定的探討。有關專利技術 侵害的判斷,自周邊界定主義及均等論被奉為圭臬以來,一直是個爭議不休的課題。尤其在 技術侵害的鑑定上,創新程度的判斷依然十分主觀。本文之重點即在於提供技術創新構面的 思考與分析,期使專利侵害的判斷能建立一更為合理的法則。本文由各國專利法制與侵害分 析之歷史發展著手,歸結出專利權利內容不斷增加,技術範圍的解釋以及侵害分析之原則也 漸趨一致。直接侵害與間接侵害之行為態樣已較以往擴增,周邊界定主義、均等論、全要件 原則及禁反言原則已經是標準的思考模式。本研究續以技術、發明與創新之定義與類型探討 其本質,並就其間之整合關係加以邏輯化之敘述。同時提出鑑定三角 -- 技術特徵、侵害分 析原理和創新程度之論點,提供技術侵害認定問題的省思。吾人認為創新程度的判斷有必要 先依產業技術之類別與內容先行區分,再循技術特性與創新價值予以判斷。對技術差異的主 觀判斷能加一些客觀的評準,有助於合理研判專利侵害的存在與否,也才能落實專利法提昇 社會創新與產業升級之政策目的。 |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。