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題名 | 可測試設計技術=Design for Test |
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作者姓名(中文) | 陳繼展; 林森田; 何榮基; 李嘉仁; 劉威廷; 蘇錦榮; 羅崑崙; 張永嘉; |
作者姓名(外文) | Chen, Ji-jan; Lin, Shen-tien; Ho, Jung-chi; Lee, Chia-jen; Liu, Wei-ting; Su, Chin-lung; Luo, Kun-lun; Chang, Yeong-jar; |
書刊名 | 系統晶片 |
卷期 | 1 民93.10 |
頁次 | 頁46-60 |
分類號 | 448.57 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 可測試設計; 類比/混合訊號電路的內建自我測試技術; 記憶體測試技術; 系統晶片測試架構; |