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題 名 | TFT-LCD Macro Defect Detection Using Innovative Background Reconstruction Algorithm=創新式背景重建演算法運用於TFT-LCD Mura瑕疵之自動化檢測技術 |
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作 者 | 陳亮嘉; 楊順霖; 郭家成; 黃耀庭; | 書刊名 | 中國機械工程學刊 |
卷 期 | 26:6 民94.12 |
頁 次 | 頁785-789 |
分類號 | 448.537 |
關鍵詞 | 背景重建演算法; 自動化檢測; TFT-LCD; Defect inspection; TFT-LCDs; Singular value decomposition; Macro defects; Machine vision; |
語 文 | 英文(English) |