查詢結果分析
來源資料
頁籤選單縮合
題名 | 由專利指標看TFT-LCD中段製程技術之國家競爭力與研發特性=On the Competitiveness and Characteristics of Cell Process of TFT-LCD Technologies from Patent Indices |
---|---|
作者 | 陳達仁; 李思宏; Chen, Dar-zen; Lee, Szu-hung; |
期刊 | 智慧財產權月刊 |
出版日期 | 20050700 |
卷期 | 79 2005.07[民94.07] |
頁次 | 頁49-69 |
分類號 | 448.5、448.5 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 專利指標; 國際專利分類號; 液晶顯示; 優質專利; Cell製程; Patent indices; International patent clssification; TFT-LCD; Essential patent; Cell process; |