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題名 | 晶圓針測之測試條件設定與誤宰診斷=The Setting of Threshold Values and Overkill Diagnosis in Wafer Probing |
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作者 | 洪士程; Horng, Shih-cheng; |
期刊 | 親民學報 |
出版日期 | 20040800 |
卷期 | 10 2004.08[民93.08] |
頁次 | 頁13-19 |
分類號 | 448.57 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 晶圓針測; 序的最佳化; 類神經網路; 基因演算法; Ordinal optimization; Wafer probing; Neural network; Genetic algorithm; |