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題 名 | 新世代場發射穿透式電子顯微鏡應用在工研院奈米檢測研究之概況 |
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編 次 | 下 |
作 者 | 羅聖全; 江正誠; 林智仁; 陳淑貞; 林麗娟; 洪健龍; | 書刊名 | 工業材料 |
卷 期 | 214 2004.10[民93.10] |
頁 次 | 頁188-193 |
分類號 | 440.12 |
關鍵詞 | 場發射穿透式電子顯微鏡; 電子能量損失譜儀; 高角度環狀偵測器; 掃瞄影像觀測元件; 數位掃瞄影像擷取系統; JEOL JEM-2100F; FETEM; EELS; High-Angle annular detector; Scanning image observation device; Digiscan image acquisition system; |
語 文 | 中文(Chinese) |