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題名 | 從專利計量的觀點評估國家科技競爭力=National Science and Technology Competitiveness: An Aspect from Patentometrics |
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作者 | 黃慕萱; 陳達仁; 張瀚文; | 書刊名 | 中國圖書館學會會報 |
卷期 | 70 2003.06[民92.06] |
頁次 | 頁18-30 |
分類號 | 440.6 |
關鍵詞 | 專利計量; 國家科技競爭力; Patentometrics; National science and technology competitiveness; |
語文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 本文目的係以專利計量的觀點探討國家科技競爭力之評估;文中除分析專利計量相關文獻外,並分別從量與質的層面探討國家科技競爭力之評估指標。其中,以「量」為重的專利計量指標包括專利量、專利成長率以及發明專利量;以「質」為重的專利計量指標則包括國家專利引用量分析、國家專利被引用量分析、國家即時專利被引用次數分析、國家科學文獻與專利技術連結度分析、國家專利技術循環時間分析。而透過專利計量評估指標,不僅有助於了解國家科技表現之強弱與優劣,更能提供政府進一步發展及改善的參考。 |
英文摘要 | Patents can be served as a very good criterion to evaluate national science and technology competitiveness. We can evaluate national science and technology competitiveness from the aspect of patentometrics by using patent-based indicators, including number of patents, percentage of patent growth, number of invention patents, number of citing patents, number of cited patents, current impact index, science linkage, and technology cycle time. Those indicators offer a good way to evaluate the science and technology competitiveness of one country not only quantitatively but also qualitatively. |
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