查詢結果分析
來源資料
頁籤選單縮合
題名 | 老化作用對電子零組件的影響與紅外線熱像應用之研究 |
---|---|
作者姓名(中文) | 吳志宏; 李淑燕; 曾衍彰; | 書刊名 | 核研季刊 |
卷期 | 42 2002.01[民91.01] |
頁次 | 頁79-93 |
分類號 | 448.5 |
關鍵詞 | 老化實驗; 放射率; 紅外線熱像; |
語文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 本文中我們以加偏壓及變化環境溫度的方法,針對電阻與電容進行加速老化實驗。研究結果顯示電阻的電阻值受到溫度與偏壓影響而增加,電阻值的正溫度係數比未經老化實驗前增加約50倍,且電阻元件外觀顏色亦因老化實驗作用產生不同程度之變化;而溫度的作用易造成電容值減少的變化,偏壓的作用則造成電容值的增加與較大的漏電流。該老化過後的元件亦以紅外線熱像儀系統進行溫度量測,於實驗中發現被測物表面的放射率(emissivity)值影響量測結果甚鉅,且無法掌握,極易造成量測結果的誤判,使得紅外線熱像量測的結果與被測電子元件特性變化之間的關連性降低,而無法提供準確之數據資料做為分析電子卡片功能變化之依據。 |
本系統之摘要資訊系依該期刊論文摘要之資訊為主。