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題 名 | A Greedy Approach to Test Construction Problems=利用貪婪技術於測驗建構問題之研究 |
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作 者 | 孫光天; | 書刊名 | Proceedings of the National Science Council : Part D, Mathematics, Science, and Technology Education |
卷 期 | 11:2 2001.05[民90.05] |
頁 次 | 頁78-87 |
分類號 | 521.3 |
關鍵詞 | 貪婪技術; 測驗; Item response theory; Test construction; Combinatiorial optimization problem; Educational Measurement; |
語 文 | 英文(English) |