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題名 | Fast Deterministic Test Pattern Generation for Scan-Based BIST Environment=掃描植入式自我測試環境之快速特定測試向量產生器 |
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作者姓名(中文) | 王維倫; 李昆忠; | 書刊名 | Journal of the Chinese Institute of Electrical Engineering |
卷期 | 8:4 2001.11[民90.11] |
頁次 | 頁365-376 |
分類號 | 448.537 |
關鍵詞 | 線性迴授位移暫存器; 植入式自我測試; 虛擬隨機式測試向量產生器; 特定式測試向量產生器; 掃描鏈; Linear feedback shift register; Built-in self-test; Pseudorandom test pattern generator; Deterministic test pattern generator; Scan chain; |
語文 | 英文(English) |