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題 名 | Energy Loss Measurements in GaN Single Crystal Grown on Sapphire=生長於青玉上之GaN單晶之能量損失量測研究 |
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作 者 | Rana,Mukhtar A.; Osipowicz,T.; Wielunski,L.; Watt,F.; Choi,A.; | 書刊名 | 核子科學 |
卷 期 | 38:5 2001.10[民90.10] |
頁 次 | 頁301-306 |
分類號 | 339.5 |
關鍵詞 | 青玉; GaN單晶; 能量損失量; Ion channeling; Energy loss rate; Rutherford backscattering; |
語 文 | 英文(English) |