查詢結果分析
來源資料
相關文獻
- 以單一雷射光束之截面半徑變化計算材料應力之研究
- 在鈷/鈦/矽與鈷/鎳/矽系統不同中間層對鈷矽化物生成的影響
- A Skeleton Curvature Function Method for Two-Dimensional Shape Optimization under Stress Constraints
- 加熱器熱交換管材Monel 400合金之高溫應力腐蝕案例分析
- Analysis of Thermal Stresses and Curvatures for Multilayer Structure with Mechanical Properties Dependent on Temperature
- Thermal Stress and Curvature Analysis of Elastically Isotropic Multilayer Structures
- The Relationships between the Crack-tip Stress Fields and the CreepCrack Growth Rates
- 模流設計應用於射出成型之光學特性分析
- 生胚密度差異所引發之燒結曲率與應力分析
- 輕質粒料混凝土梁之撓曲強度與曲率韌性研究
頁籤選單縮合
題名 | 以單一雷射光束之截面半徑變化計算材料應力之研究 |
---|---|
作者 | 廖志雄; 蔡震寰; | 書刊名 | 黃埔學報 |
卷期 | 41 2001.09[民90.09] |
頁次 | 頁379-392 |
分類號 | 440.2 |
關鍵詞 | 曲率; 光槓桿; 截面半徑; 光程; 應力; |
語文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 在材料結構研究之領域中,利用量測試片外形曲率(Curvature)變化來計算應力之方式,是少數幾種可分析試片結構動態改變,又不破壞材質之方式。而其中光學之曲率量測方式與傳統機械等量測方式相較,則又具備有較高之偵測靈敏度等優點。本文有別於光槓桿(Optical-Lever)之光束偏移量測試方法,在於發現單一雷射光束自然擴張之截面(Expanded Cross-sectional Area) 半徑會隨試片曲率及光程(Optical Path)做規則性變化的特性,並且將之應用在實驗上,籍由對光束截面之實際量測,得出多層膜試片本身之曲率變化及所擁有之應力(Stress)。該單一光束截面半徑之研判應力方法和其它光學量測法相比較,除了毋須固定試片外,尚有簡化儀具之擺設、縮小試片與光束之接觸面積以及靈敏度並不亞於光槓桿法等優點。 |
本系統之摘要資訊系依該期刊論文摘要之資訊為主。