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題 名 | 近場光學研究有機薄膜電荷傳導與次微米型態學之關係 |
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作 者 | 陳澤涵; 魏培坤; 范文祥; 曹培熙; | 書刊名 | 光訊 |
卷 期 | 88 2001.02[民90.02] |
頁 次 | 頁13-16 |
分類號 | 336.5 |
關鍵詞 | 近場光學; 有機薄膜; 電荷傳導; 次微米型態學; |
語 文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 我們利用載子飛行時間的方法測量poly[2-methoxy-5-(2'-ethy︱-hexy︱oxy)-1, 4-phenylene vinylene] (MEH-PPV) 的電洞遷移率。 我們根據 Gaussian disorder 電荷傳 導模型分析零電場遷移率與溫度的相依性。另一方面,利用近場掃瞄光學顯微鏡,我們發現 ,MEH-PPV 薄膜在 0.1 微米尺度下的型態學性質經過鍛燒後會變得很不均勻。 經由光譜學 分析,我們推測此 -- 變化和高分子鍊的聚集 (aggregation) 有著密切的關係。 同時我們 發現電洞遷移率下降了一個數量級,而且其傳導同時也變得具色散性。 |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。