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來源資料
科儀新知
22:4=120 2001.02[民90.02]
頁12-20
光;光學
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光譜學
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題名
利用X光吸收光譜近吸收邊緣量測高溫超導材料之電洞濃度
作者姓名(中文)
許益瑞
;
劉如熹
;
陳錦明
;
書刊名
科儀新知
卷期
22:4=120 2001.02[民90.02]
頁次
頁12-20
分類號
336.5
關鍵詞
X光吸收光譜近吸收邊緣
;
高溫超導材料
;
語文
中文(Chinese)
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