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題名 | The K Test: An Exact and Efficient Knowledge-based Data Dependence Testing Method for Parallelizing Compilers=一個基於知識庫之資料相依性測試法 |
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作者 | 楊朝棟; 曾憲雄; 時文中; | 書刊名 | Proceedings of the National Science Council : Part A, Physical Science and Engineering |
卷期 | 24:5 2000.09[民89.09] |
頁次 | 頁362-372 |
分類號 | 448.5 |
關鍵詞 | 知識庫; 資料相依性測試法; Parallelizing compilers; Data dependence testing; Loop parallelization; Knowledge-based; Repertory grid analysis; |
語文 | 英文(English) |