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題 名 | 半導體產業風險分析之實證研究=An Emperical Study on Risk Analysis of Semiconductor Industry |
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作 者 | 賴麗華; | 書刊名 | 風險管理 |
卷 期 | 5 2000.09[民89.09] |
頁 次 | 頁11-27 |
分類號 | 484.51 |
關鍵詞 | 半導體產業; 風險分析; Semiconductor industry; Risk analysis; |
語 文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 本研究嘗試以風險分析架構為基礎,以臺灣半導體產業為對象進行實証研究,探討臺灣半導體風險構面之關鍵因素。實証分析結果顯示風險標的為一重要的解釋變項,並且,廠商型態與危險事故顯著影響臺灣半導體產業風險分析之差異性。 |
英文摘要 | The purpose of this study is to develop the foundamental framework of the risk analysis. Taiwaness semiconductor industry are chosen to test the importance of factors influencing the demisions of risk. The results show that Firm fypes and perils all have significant impact on different of visk analysis of semiconductor industry in Taiwan. |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。