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題 名 | Flip-Flop Selection for Mixed Scan and Reset Design Based on Test Generation and Structure of Sequential Circuits |
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作 者 | 梁新聰; 李崇仁; | 書刊名 | Journal of Information Science and Engineering |
卷 期 | 16:5 2000.09[民89.09] |
頁 次 | 頁687-702 |
專 輯 | Special Issue on VLSI Testing |
分類號 | 448.57 |
關鍵詞 | Partial scan; Partial reset; Reachable states; Test generation; Design for testability; |
語 文 | 英文(English) |