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題 名:
On the Searching Patterns for Backward-Type Sequential Circuit Test Generation:逆向型序向電路測試圖樣產生法之策略研究
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20 1998.07[民87.07]
- 頁 次:
頁315+317-337
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16:5 2000.09[民89.09]
- 頁 次:
頁687-702
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:10=171 2009.10[民98.10]
- 頁 次:
頁114-122
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題 名:
Representatives of Economical Repair Solutions for Memories:記憶體節省修復解之代表元件
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2:1 2007.01[民96.01]
- 頁 次:
頁49-54
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題 名:
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題 名:
Designing Circuits for Low-Power Testing of Transition Delay Faults:低功率測試轉態延遲障礙之電路設計
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
12:2 2017.04[民106.04]
- 頁 次:
頁61-69
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題 名: