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來源資料
光訊
83 2000.04[民89.04]
頁21-24
工程學總論
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測量方法
相關文獻
雷射量測系統
Development of a Novel Heavy-Loading Flexure Hinge Based Stack-Type Five-Degree-of-Freedom Nanometer Positioning Stage
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題 名
雷射量測系統
作 者
陳玲玲
;
許建揚
;
李先雨
;
閻偉中
;
陳思武
;
書刊名
光訊
卷 期
83 2000.04[民89.04]
頁 次
頁21-24
分類號
440.91
關鍵詞
雷射量測系統
;
語 文
中文(Chinese)
中文摘要
自雷射發展以來,雷射在檢測方面之應用不斷地被開發且廣泛地應用於各個領域 。又由於半導體雷射的迅速發展,許多雷射量測產品之光源大多為其所取代而為一輕巧之量 測產品,更增加其應用性。 本文主要在介紹中山科學研究院近年來執行經濟部科專計畫所發展的雷射量測技術包括雷射 拉伸量測儀、雷射測距儀及雷射位移計等技術,希望國內中小光電企業能投入量測產業。
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