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題 名 | 電壓波形諧波畸變對局部放電測試的影響檢討 |
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作 者 | 潘慶龍; 張偉能; 顏世雄; | 書刊名 | 儀測技術雜誌 |
卷 期 | 33 2000.04[民89.04] |
頁 次 | 頁30-34 |
分類號 | 448.3 |
關鍵詞 | 局部放電; 試驗; 諧波; 測試設備; 電力品質; Partial discharge; Corona discharge; Test; Harmonics; Test equipment; Power quality; |
語 文 | 中文(Chinese) |