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題 名:
氧化鈰薄膜在奈米級金氧半電容器之研究:The Study of CeO₂ Thin Film in the Application of MOSCs
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4:1 2009.10[民98.10]
- 頁 次:
頁1-5
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題 名:
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題 名:
鋁/氧化鑭/矽結構之電性與載子傳輸:Electrical Characterization and Carrier Transportation in Al/La2O3/Si Structure
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2:1 2007.10[民96.10]
- 頁 次:
頁49-53
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題 名:
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題 名:
Electrical Analyses of Charge Trapping and Stress-Induced Leakage Current in CeO₂ Gate Dielectric:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
37:3 2014.04[民103.04]
- 頁 次:
頁407-412
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題 名: