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半導體成品測試廠產能規劃研究:Capacity Planning for IC Final Test Plant
陳建良 項衛中 孫正儒 陳俊杰 Chen, James C.; Shiang, Wei-jung; Sun, Cheng-ju; Chen, Jeff C.;
中原學報
33:1 民94.03
頁57-70
TCI引用統計