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- 題 名:
電荷汲引技術(Charge-Pumping Technique)應用於High-κ金氧半電晶體閘介電層內部邊緣缺陷縱深及能量分佈量測:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13:10=147 2007.10[民96.10]
- 頁 次:
頁149-161
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
30:1 2007.01-02[民96.01-02]
- 頁 次:
頁26-32