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檢索結果筆數(25)。
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題 名:
積體電路產業--IC光罩、封裝與測試業:
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作者:
- 書刊名:
彰銀資料
- 卷 期:
48:4 1999.04[民88.04]
- 頁 次:
頁98-101
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題 名:
IC測試機臺引起的諧波案例探討:
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作者:
吳怡憓
- 書刊名:
電力電子技術
- 卷 期:
53 1999.10[民88.10]
- 頁 次:
頁45-53
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題 名:
IC測試業的回顧與展望:
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作者:
陳梧桐
- 書刊名:
零組件雜誌
- 卷 期:
120 2001.10[民90.10]
- 頁 次:
頁68+70+72+74+76
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題 名:
電子零組件製造業--IC測試業:
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作者:
- 書刊名:
調查資料
- 卷 期:
421 2000.04[民89.04]
- 頁 次:
頁94-95
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題 名:
IC測試業:
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作者:
- 書刊名:
彰銀資料
- 卷 期:
49:11 2000.11[民89.11]
- 頁 次:
頁108-111
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題 名:
IC測試業:
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作者:
- 書刊名:
彰銀資料
- 卷 期:
50:12 2001.12[民90.12]
- 頁 次:
頁63-70
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題 名:
數位IC測試簡介:
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作者:
陳永發
- 書刊名:
量測資訊
- 卷 期:
81 2001.09[民90.09]
- 頁 次:
頁48-51
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題 名:
IC測試器--積體電路元件品質把關者:
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作者:
劉裕光
- 書刊名:
零組件雜誌
- 卷 期:
110 2000.12[民89.12]
- 頁 次:
頁102+104+106
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題 名:
積體電路封裝測試:
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作者:
陳明坤
- 書刊名:
表面黏著技術季刊
- 卷 期:
34 2001.04[民90.04]
- 頁 次:
頁21-24
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題 名:
電子工業--半導體業(IC測試):
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作者:
- 書刊名:
調查資料
- 卷 期:
396 1998.03[民87.03]
- 頁 次:
頁105-107
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題 名:
IC測試業--專業分工帶動的服務商機:
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作者:
張如心
- 書刊名:
新電子科技
- 卷 期:
142 1998.01[民87.01]
- 頁 次:
頁185-193
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題 名:
IC測試的服務商機:
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作者:
張如心
- 書刊名:
工業材料
- 卷 期:
136 1998.04[民87.04]
- 頁 次:
頁141-145
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題 名:
可測試性設計--IC測試的最終答案:
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作者:
李崇仁
- 書刊名:
電子月刊
- 卷 期:
2:11=16 1996.11[民85.11]
- 頁 次:
頁78-83
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題 名:
虎虎生豐的IC產業:
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作者:
溫啟宏
彭鐿良
蔡美柔
Vivian;
- 書刊名:
零組件雜誌
- 卷 期:
77 1998.03[民87.03]
- 頁 次:
頁40-67
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題 名:
IC測試業:
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作者:
- 書刊名:
彰銀資料
- 卷 期:
51:11 2002.11[民91.11]
- 頁 次:
頁136-143
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題 名:
IC測試業:
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作者:
劉世忠
- 書刊名:
華銀月刊
- 卷 期:
52:6=617 2002.06[民91.06]
- 頁 次:
頁26-33
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題 名:
力成科技:
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作者:
- 書刊名:
證券櫃檯
- 卷 期:
88 2003.10[民92.10]
- 頁 次:
頁14-17
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題 名:
IC測試產業概況:
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作者:
張明義
- 書刊名:
產業調查與技術季刊
- 卷 期:
146 2003.08[民92.08]
- 頁 次:
頁107-116
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題 名:
可測試設計(Design for Test)--低測試成本下高品質IC之迅速出貨:
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作者:
吳文慶
- 書刊名:
電子月刊
- 卷 期:
8:5=82 2002.05[民91.05]
- 頁 次:
頁162-169
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