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題 名:
Core-Based System-on-Chip Testing: Challenges and Opportunities:核心系統晶片測試--挑戰與機會
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁335-353
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題 名:
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題 名:
Configuration Free SOC Interconnect BIST Methodology:與設計無關之單晶片系統連接線自我測試方法
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁377-386
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題 名:
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- 題 名:
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編 次:
上
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
100 2000.02[民89.02]
- 頁 次:
頁170-172
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
170 2001.02[民90.02]
- 頁 次:
頁100-109
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
113 2001.03[民90.03]
- 頁 次:
頁74-76+78+80
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6:6=59 2000.06[民89.06]
- 頁 次:
頁112-117
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6:6=59 2000.06[民89.06]
- 頁 次:
頁118-123
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
211 2000.10[民89.10]
- 頁 次:
頁122-130
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
3:3=20 1997.03[民86.03]
- 頁 次:
頁127-129
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題 名:
System-on-Chip及Mixed-Signal測試發展趨勢:The Trend of System-on-Chip and Mixed-Signal Testing
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
70 1998.06[民87.06]
- 頁 次:
頁60-66
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
123 1996.06[民85.06]
- 頁 次:
頁161-208
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
142 2003.08[民92.08]
- 頁 次:
頁52-54+56
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- 題 名:
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編 次:
上
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
143 2003.09[民92.09]
- 頁 次:
頁107-108+110+112-114
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:4 2002.12[民91.12]
- 頁 次:
頁77-87
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
211 2003.10[民92.10]
- 頁 次:
頁109-114
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題 名:
A Power Constrained Monitoring Scheme for SoC Testing:功率限制下系統晶片測試之監控系統
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
18 2003.12[民92.12]
- 頁 次:
頁115-125
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
207 2003.06[民92.06]
- 頁 次:
頁175-181
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- 題 名:
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編 次:
下
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
144 2003.10[民92.10]
- 頁 次:
頁118-120+122-124
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
202 2003.01[民92.01]
- 頁 次:
頁208-213
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
204 2003.03[民92.03]
- 頁 次:
頁168-177