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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
84 1998.10[民87.10]
- 頁 次:
頁113-116
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題 名:
A BIST Architecture for AT-Speed DRAM Testing:動態記憶體之高速自我測試電路架構
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁387-394
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題 名:
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題 名:
The Experience in Fine-Tuning a Compiler Generated from an Attribute Grammar:對屬性文法產生之編譯器改善其效率之經驗
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4:1 1997.02[民86.02]
- 頁 次:
頁75-82
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題 名:
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題 名:
基於JTAG之同步動態記憶體測試系統的設計與實作:Design and Implementation of a JTAG-based SDRAM Testing System
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14 2003.04[民92.04]
- 頁 次:
頁152-163
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
28 1994.04[民83.04]
- 頁 次:
頁48-55
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23:4 2016.10[民105.10]
- 頁 次:
頁475-501
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
29 2009.06[民98.06]
- 頁 次:
頁63-69