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題 名:
Core-Based System-on-Chip Testing: Challenges and Opportunities:核心系統晶片測試--挑戰與機會
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁335-353
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17 2003.06[民92.06]
- 頁 次:
頁147-160
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26 1994.02[民83.02]
- 頁 次:
頁9-16
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
37 1995.03[民84.03]
- 頁 次:
頁20-28
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題 名:
寬輸入輸出動態隨機存取記憶體之內建自我測試架構設計:Built-In Self-Test (BIST) Design for Wide I/O DRAM
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
157 2014.06[民103.06]
- 頁 次:
頁70-78
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14:10=159 2008.10[民97.10]
- 頁 次:
頁155-168
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題 名:
適用於三維晶片鍵合後穿矽孔測試的內建自我測試方法:A Built-in Self-test Scheme for the Post-bond Test of TSVs in 3-D ICs
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
141 2011.10[民100.10]
- 頁 次:
頁100-107
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
1 民93.10
- 頁 次:
頁46-60