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題 名:
Characterization of Plasma Charging Induced Gate Oxide Damage during Metal Etching:金屬蝕刻時電漿充電損害效應的探討
- 作 者:
- 書刊名:
Proceedings of the National Science Council : Part A, Physical Science and Engineering
- 卷 期:
22:3 1998.05[民87.05]
- 頁 次:
頁416-424
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題 名:
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題 名:
採集合排序樣本時常態平均值之較佳檢定:Tests for a Normal Mean Based on Ranked Set Samples
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
40:3 2002.09[民91.09]
- 頁 次:
頁391-418
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題 名:
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題 名:
A Variable-scale Refinement Triangulation Algorithm with Faults Data:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
31:5 2020.10[民109.10]
- 頁 次:
頁212-223
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題 名: