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檢索結果筆數(13)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4:1 2005.08[民94.08]
- 頁 次:
頁287-297
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題 名:
應用熵權重及灰關聯分析於軍事學校學生德行考核之研究:A Study of the Moral Education Evaluation in Military Schools
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4:1 2005.08[民94.08]
- 頁 次:
頁307-320
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題 名:
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題 名:
高速線掃描之晶背瑕疵自動光學檢測系統:An AOI System for Chip Backside Defects Based on a High Rate Line Scanner
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:6=194 2013.06[民102.06]
- 頁 次:
頁41-50
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6:2 2013.12[民102.12]
- 頁 次:
頁(1)1-(1)18
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題 名:
LED晶粒瑕疵自動光學檢測系統研發:An Automatic Optical Inspection System Development for LED Chip Defects
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
202 2015.03[民104.03]
- 頁 次:
頁6-15
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
31 2015.10[民104.10]
- 頁 次:
頁1-28
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
33 2016.09[民105.09]
- 頁 次:
頁1-27
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題 名:
晶片多面視覺檢測系統開發:A Machine Vision System Development for Inspecting Defects on Multi-Surfaces of Chips
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
208 2016.09[民105.09]
- 頁 次:
頁31-43
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
36:2=162 民94.09-10
- 頁 次:
頁107-130
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21 2010.09[民99.09]
- 頁 次:
頁267-282
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24 2012.03[民101.03]
- 頁 次:
頁85-107
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
1:1 2009.08[民98.08]
- 頁 次:
頁33-40
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15 2007.09[民96.09]
- 頁 次:
頁105-123