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- 題 名:
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- 卷 期:
157 2014.06[民103.06]
- 頁 次:
頁53-60
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題 名:
寬輸入輸出動態隨機存取記憶體之內建自我測試架構設計:Built-In Self-Test (BIST) Design for Wide I/O DRAM
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
157 2014.06[民103.06]
- 頁 次:
頁70-78
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
160 2014.12[民103.12]
- 頁 次:
頁74-84
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
9:2 2014.04[民103.04]
- 頁 次:
頁87-92
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
40:3=471 2014.03[民103.03]
- 頁 次:
頁78-108
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4:2 2014.06[民103.06]
- 頁 次:
頁199-202
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:1=222 2014.01[民103.01]
- 頁 次:
頁90-104
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題 名:
製造缺陷引發積體電路可靠度失效實例探討:Case Study for IC Reliability Failure Caused by Manufacturing Defects
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
50:10 2014.10[民103.10]
- 頁 次:
頁24-28
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:10=231 2014.10[民103.10]
- 頁 次:
頁54-69
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
68 2014.09[民103.09]
- 頁 次:
頁47-52
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
65:9 2014.09[民103.09]
- 頁 次:
頁10-33
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:9=230 2014.09[民103.09]
- 頁 次:
頁121-129
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
42:3 2014.07[民103.07]
- 頁 次:
頁81-97
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:5=226 2014.05[民103.05]
- 頁 次:
頁122-134
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:3=224 2014.03[民103.03]
- 頁 次:
頁72-84