查詢結果
檢索結果筆數(4)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
-
-
題 名:
A BIST Architecture for AT-Speed DRAM Testing:動態記憶體之高速自我測試電路架構
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁387-394
-
題 名:
-
- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14 2001.12[民90.12]
- 頁 次:
頁28-32